1. 研究目的与意义
晶体管测试仪是用来测量晶体管输入输出特性曲线的一种常用工具，现在市面上的的晶体管测试仪虽性能好精度高，但其成本昂贵，仪器体形较大，不利于低成本小规模的实验研究以及携带。
该研究通过了解测量双极型晶体管输入、输出特性曲线的原理和方法，设计一个简便易操作的晶体管特性测试仪。
该研究成果适用于需要对晶体管做定性判断而不要求精准数值的场合，并且提高晶体管特性测试仪的便携性，有利于教学相关实验的推广运用。
2. 国内外研究现状分析
自20世纪中叶晶体管问世，这种pn结型晶体管局得到了广泛应用，到了21世纪的今天，晶体管更是成为电子技术、信息技术等多个领域都需要应用的最广泛器件之一，晶体管也被认为是现代历史中最伟大的发明。自然，因运用广泛的晶体管而生的晶体管特性测试仪，也成为当前教学、工业、科研等密切关注的重点。同时，作为信息产业的三大关键技术之一，测试测量行业已经成为电子信息产业的基础和发展保障，而晶体管测试仪器作为晶体管测试测量行业发展不可或缺的工具，在很多领域的发展中起到了巨大的作用。
1.世界范围袖珍型晶体管特性测试仪发展概况
科学仪器的自主研发在创新型国家得到重视，欧美日等国家都把发展一流的科学仪器支撑一流的科研工作作为国家战略，对科学仪器的装备和创新给予重点扶持。作为晶体管测量测算领域的重要仪器，晶体管特性测试仪的发展得到了多个国家的肯定与大力支持，使科研人员在仪器的研发方面做出了重要贡献。
3. 研究的基本内容与计划
1-2周：完成开题相关准备，仔细阅读指定的参考文献，对整体设计有一定方向，包括测试主电路的构架、参数间的转换、单片机嵌入式板的选择等；
3-4周：完成测试电路各部分的设计，并对电路每一部分的器件选择做一定规划，最后完成整体电路的组合；
5-6周：完成测试电路的模拟以及仿真调试，确保测试主电路的可行性和稳定性；
4. 研究创新点
1.通过最简的设计实现npn和pnp两种双极晶体管共射极接法的特性测试;
2.采用简单的电路，控制测量误差小于10%；
3.电平阶梯波数多而且可调（不少于10级）；
