1. 研究目的与意义
摄影测量的精度首先取决于像机的精度，所以，像机的检校是摄影测量的重要内容。采用单像空间后方交会法或直接线性变换解法检校像机时，必须在物方空间布置一定数量且分布合理的控制点。采用附有制约条件的直接线性变换解法时，虽然因附加条件的引入而使必须的控制点数有所减少，但控制点仍然是检校的必要条件。本文介绍的是一种无需控制点，直接利用平行直线相对控制的空间后方交会解法。通过理论的学习和实践的运用，对进一步掌握摄影测量基本理论和方法有很重要的意义。
2. 国内外研究现状分析
目前，国内外有关CUD相机检校工作做的还不是很多，主要是由于CCD相机是新近发展起来的摄像工具，它用于国内测绘行业也刚刚起步。但随着CCD相机广泛地应用于各个行业，特别是对精度要求较高的行业，对其各参数检校的工作日趋迫切。
在国内，武汉大学遥感信息工程学院近景摄影测量实验室，主要带头人冯文颧教授，他们在传统相机检校理论、方法、实现等方面做了较多的研究工作;通过室内、室外实验场以及一些活动的控制装置，做了大量的试验研究，积累丰富的经验;通过一些实地的工程项目，验证了在不同试验条件下所获得的检校数据的真实性和可靠性。冯文颧教授在这一领域主要代表作品有:教材有《近景摄影测量》，对相机检校的内容、原理和方法有较为详细的论述;论文主要有非量测用摄影机制改装与检校、工业测量中特高精度控制网的建立方法、近景摄影测量的控制、关于近景摄影机检校的几个问题等，这些文章中涉及到了有关实验场建立的一些方法、经验以及如何提高检校精度等问题。
3. 研究的基本内容与计划
（1）介绍像机的检校的基本原理；
（2）以单像空间后方交会法或直接线性变换解法检校像机，对其中的关键技术和重点环节做深入分析；
（3）无需控制点，直利用平行直线相对控制的空间后方交会解法的研究；
4. 研究创新点
采用一种无需控制点，直接利用平行直线相对控制的空间后方交会解法。
