1. 研究目的与意义
该课题主要研制SCR质量检测仪，SCR检测仪通过测量可控硅的导通和关断时的控制极电压的大小确定可控硅质量的好坏，找到可控硅最佳导通和关断电压，从而使控制电路的控制质量达最大灵敏度，减少电子污染，节约电能。可控硅应用十分广泛，它的出现使半导体技术从弱电领域进入了强电领域，成为工业、农业、交通运输、军事科研以至商业、民用电器等方面争相采用的元件，但由于现在各生产厂家的生产工艺不同（如ST，NXP/PHILIPS，NEC，ON/MOTOROLA，RENESAS/MITSUBISHI等公司），使得不同的可控硅产品在应用过程中存在很大差异。所以对可控硅的质量检测分等是非常有必要的。 |
2. 国内外研究现状分析
国内外均有对可控硅的简易检测的研究，但是，当前在国内还没有类似的可控硅质量检测仪出现，对可控硅的质量好坏检测分等还尚属首例。同时也很具有实际应用价值。
3. 研究的基本内容与计划
方案拟定：
通过单片机为核心的控制检测电路，对可控硅的导通和关断时的控制极电压进行测量，得到导通电压的最小值和关断电压的最大值，并对测量结果分析、显示，从而达到对不同可控硅质量好坏的鉴别。
scr质量检测仪的系统结构：
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4. 研究创新点
SCR质量检测仪结构简单，能够找到可控硅的最佳导通电压和关断电压，从而控制电路的控制质量达最大灵敏度，有效的减少电子污染，节约电能，很适合应用于生产实践。
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